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    產品展示

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    等離子體發射光譜測量系統

    • 產品型號:OmniES-Plasma
    • 產品時間:2024-05-20
    • 簡要描述:該系統用于測量等離子體發射光譜測量,采用模塊化設計 采用光纖導光或空間光耦合
    • 產品介紹
     ● 該系統用于測量等離子體發射光譜測量,采用模塊化設計
    ● 采用光纖導光或空間光耦合
    ● 可定位測量空間位置(選配功能)
    ● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
    ● 光譜分辨率:優于0.05nm(@1200g/mm光柵)
    ● 波長準確度:優于±0.2nm
    ● 波長重復性:優于±0.1nm
    ● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、數據運算、保存及打印等功能
     

     

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